زبری نانومتری بر سطح الیاف پلی‌استر با استفاده از عمل‌آوری فرابنفش-ازن

Authors

  • اکبر خدامی دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی نساجی، کد پستی 8311-84156
  • جلال رحمتی‌نژاد دانشگاه صنعتی اصفهان، دانشکده مهندسی نساجی، کد پستی 8311-84156
Abstract:

فرضیه: در سال‌های اخیر روش‌های جدیدی مانند پلاسما، پرتودهی فرابنفش و عمل‌آوری با ازن برای اصلاح سطح پلیمرها به‌کار گرفته شده است. اصلاح سطح الیاف پلیمری برای بهبود قابلیت رنگرزی و ایجاد خواص فیزیکی مطلوب مانند جذب رطوبت زیاد و الکتریسیته ساکن کم انجام می‌شود. در این مطالعه، برای اصلاح خواص سطحی الیاف پلی‌استر و اکسایش سطحی آن‌ها، روش ترکیبی جدید از راه عمل‌آوری با فرابنفش-ازن با دو شیوه خشک و تر به‌کار گرفته شد.روش‌ها: برای اصلاح سطح الیاف پلی‌استر، عمل‌آوری با فرابنفش-ازن روی نمونه‌های خشک و نیز پیش‌آغشته‌سازی نمونه‌ها با آب و محلول‌های هیدروژن پراکسید و هیدروژن پراکسید-سدیم سیلیکات انجام شد. به‌منظور بررسی گروه‌های عاملی و شکل‌شناسی نمونه‌ها و مقایسه آن‌ها با نمونه شاهد به‌ترتیب از طیف‌نمایی زیرقرمز تبدیل فوریه (FTIR) و میکروسکوپی الکترون پویشی (SEM) استفاده شد. همچنین، جذب رطوبت و مقدار الکتریسیته ساکن نمونه‌ها بررسی شد. یافته‌ها: نتایج طیف‌های FTIR حاکی از افزایش شایان توجه گروه‌های عاملی اکسیژن‌دار مانند هیدروکسیل و کربونیل در نمونه‌ها در اثر عمل‌آوری با فرابنفش-ازن بود. عکس‌های SEM نشان داد، زبری نانومتری روی سطح نمونه‌های عمل‌آوری‌شده ایجاد شده است. همچنین نتایج نشان داد، جذب رطوبت نمونه‌های عمل‌آوری‌شده افزایش و در پی آن مقدار الکتریسیته ساکن کاهش یافته است. طبق نتایج، پیش‌آغشته‌سازی نمونه‌ها اثر زیادی بر فرایند اکسایش سطحی دارد.  

Upgrade to premium to download articles

Sign up to access the full text

Already have an account?login

similar resources

مقدمه‌ای بر عمل‌آوری با تابش فرابنفش/ ازن و کاربرد آن در مهندسی سطح الیاف و فیلم‌های پلیمری

تابش فرابنفش/ ازن فناوری سریع و سازگار با محیط زیست برای اصلاح خواص سطح الیاف و فیلم‌های پلیمری ‌می‌‌باشد. در این مقاله ضمن معرفی عمل آوری تابش فرابنفش/ ازن و عوامل مهم این پروسه، سازوکار عملکرد این فرآیند از جنبه‌های گوناگون (شیمیایی و فیزیکی) بررسی شده است. شکل‌گیری رادیکال‌های آزاد بر سطح (به دلیل فعل و انفعالات نورشیمیایی) و ایجاد زبری‌های سطحی (به‌دلیل اثر اچ فیزیکی)، دو عامل کلیدی در مهند...

full text

اصلاح سطح الیاف پلی پروپیلن با استفاده از تابش پرتوهای ریزموج و فرابنفش

پلی‌ پروپیلن به دلیل داشتن ماهیت غیرقطبی از نظر کاربردهای ویژه‌ ای که متأثر از خواص سطح الیاف است، محدودیت دارد. امروزه اصلاح سطح الیاف پلی‌ پروپیلن به دلیل معایبی همچون جذب رطوبت کم و مشکل الکتریسیته ساکن به یکی از موضوعات مورد توجه پژوهشگران تبدیل شده است. در این طرح، به منظور اصلاح سطح الیاف پلی‌ پروپیلن از عملیات اکسایش سطح با استفاده از هیدروژن پراکسید - تابش پرتوهای فرابنفش و ریزموج، به ع...

full text

تصحیح تصویر حاصل از پروفایلومترها از سطوحی با زبری نانومتری

در این مقاله نشان می­دهیم که فرآیندهای مارکوف نقشی اساسی در جاروب سطح زبر و مشخص کردن توپوگرافی آن سطح دارند. توپوگرافی سطح حاصل شده از یک پروفایلومتر مانند میکروسکوپ نیروی اتمی AFM (Atomic Force Microscope)، وابسته به برهمکنش سطح با سوزن پروب است. وقتی سایز سوزن پروب با تغییرات ارتفاع سطح قابل مقایسه باشد، تصویر سطح نسبت به سطح اصلی مقداری متفاوت خواهد داشت. اثر سوزن باعث بوجود آمدن یک تلاقی د...

full text

ازن ورد سپهر و پرتو فرابنفش رسیده به سطح زمین

با استفاده از مدل فیزیکی پیچیده عبورتابشی‘ مقدار جذب پرتو فرابنفش(UVB) توسط ازن ورد سپهر با مقدار مشابه ازن در پوشسپهر با زوایای تابش خورشیدی مختلف مقایسه می شود. نتایج نشان می دهند که با زوایای تابش کمتر از 60 درجه‘ در صورتکه یک لایه ابر در آسمان باشد‘ ازن موجود در وردسپهر نسبت به ازن پوشسپهر ‘ پرتوهای فرابنفش(nm 320-280) را دو برابر بیشتر جذب می کند. ابرها و هواویز با افزایش پراکنش در جو اثر...

full text

پراکندگی موج از سطوح فراکتالی با زبری نانومتری

در این مقاله اثر سه طول مشخصه طول موج پرتو تابیده شده به سطح (l)، زبری (s) و طول همبستگی سطح (x) برای سطوح با زبری نانومتری با استفاده از شدت موج پراکنده شده به کمک تئوری پراکندگی موج کیرشهف مطالعه شده است. در این مطالعه مشخص شد که مقیاس طول همبستگی نقش مهمی در نوع پراکندگی از سطوح زبر با زبری نانومتری بازی می‌کند. تاکنون در اغلب گزارش‌ها برای پراکندگی موج از سطوح زبر از پارامتر بدون بعد ks است...

full text

اندازه‌گیری ضخامت و زبری لایه‌های نانومتری با استفاده از نمودار شدت فریزهای تداخلی

In the standard optical interference fringes approach, by measuring shift of the interference fringes due to step edge of thin film on substrate, thickness of the layer has already been measured. In order to improve the measurement precision of this popular method, the interference fringes intensity curve was extracted and analyzed before and after the step preparation. By this method, one can ...

full text

My Resources

Save resource for easier access later

Save to my library Already added to my library

{@ msg_add @}


Journal title

volume 32  issue 6

pages  457- 471

publication date 2020-02-20

By following a journal you will be notified via email when a new issue of this journal is published.

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023